羅德與安培Schwarz增強了其高質量的汽車天線罩測試儀R＆amp; S QAR，這是一種用于雷達集成測試的定制解決方案，可以分析和評估與雷達兼容性相關的天線罩（汽車徽標）和保險杠。
OEM OEM和一級供應商使用新的R＆amp; S QAR-K50單天線簇測量軟件以無損的二維方式執(zhí)行測量，并且可以獲得非常接近矢量的測量結果網絡分析儀（VNA）。
）和準光學（QO）設備。
另外，用戶將從R＆amp; S QAR的直觀操作概念中受益。
R＆amp; S QAR是適用于天線罩和保險杠的測試和驗證的毫米波成像系統(tǒng)。
由于其出色的性能，速度，質量和直觀的操作，該系統(tǒng)已成為完美的工具。
應用范圍涵蓋天線罩材料和76 GHz至81 GHz的集成測試，包括研發(fā)，生產和驗證。
每節(jié)課。
高空間分辨率是以更大的入射角擴展為代價的。
典型的雷達傳感器具有特定的視場（FOV），例如，全范圍雷達（FRR）為±10度，而短程雷達（SRR）為±60度。
根據材料表征技術，天線罩的反射參數(shù)主要由垂直入射角定義，因為這些參數(shù)可以使用矢量網絡分析儀（VNA）進行測量。
R＆amp; S QAR-K50軟件選件就是基于此主題的。
將R＆amp; S QAR提供的結果與使用標準矢量網絡分析儀（VNA）和準光學（QO）設備測得的結果進行比較。
通過R＆amp; S QAR使用的較大孔徑，可以觀察和解釋測試對象。
一些錯誤。
這就是R＆amp; S QAR-K50軟件選件發(fā)揮作用的地方。
它將自動檢測材料樣品中的最高反射率和測試區(qū)域的平均值。
可以在7秒鐘內確定反射區(qū)域的平均值，并將測量結果顯示給用戶。
該值與VNA的S11和S22的反射測量結果緊密匹配。
現(xiàn)在可以將在開發(fā)過程中使用VNA和QO設備進行的測量結果直接與R＆amp; S QAR的測量結果進行比較。
該系統(tǒng)仍使用微波成像技術，但天線孔徑較小，因此對定位誤差的敏感性較低，比VNA設備更適合生產環(huán)境。
即使樣品定位有微小的公差，R＆amp; S QAR-K50軟件也可以自行檢測正確的測量區(qū)域，并向操作員提供光學反饋。
現(xiàn)在，R＆amp; S QAR將適用于均勻性分析的高分辨率圖像（R＆amp; S QAR-K10軟件）與穩(wěn)健且易于使用的反射率測量相結合。
使用R＆amp; S QAR-K50軟件選件獲得的測量值可以直接等同于VNA在QO設置中提供的結果。
R＆amp; S QAR-K50是用于單天線群集測量的軟件選件。
可以使用最新版本的固件將其安裝在R＆amp; S QAR的所有Windows 10版本上。
可以通過輸入鍵密碼來激活它。
現(xiàn)在可以從Rohde＆amp;定購此選項。
施瓦茨
